一些外在因素引起小兒腦癱
時(shí)間：2015-07-01來源：求醫(yī)網(wǎng)
小兒腦癱是常見的兒童疾病，小兒腦癱的癥狀主要表現(xiàn)為中樞性運(yùn)動(dòng)功能障礙和姿勢異常，常合并智能缺陷、行為異常、精神障礙及視、聽覺、語言障礙，可伴有癲癇發(fā)作。關(guān)于腦癱原因，產(chǎn)時(shí)應(yīng)從分娩開始到誕生后7天，在此階段，嬰兒機(jī)體已和外環(huán)境取得平衡，絕大多數(shù)腦癱發(fā)生于產(chǎn)中。下面分析不同時(shí)期造成小兒腦癱的原因。
1.母體遭受感染：孕期母體遭受風(fēng)疹病毒、巨細(xì)胞病毒、單純皰疹病毒和弓形體等感染，由于內(nèi)分泌改變和免疫力下降而易被激活，通過胎盤引起宮內(nèi)感染危及胎兒，可造成流產(chǎn)、早產(chǎn)、死胎、發(fā)生出生缺陷，導(dǎo)致 小兒腦癱或成殘疾兒。做好優(yōu)生八項(xiàng)(TORCH)尤其重要。
2.妊娠時(shí)的環(huán)境因素：胚胎在母體宮內(nèi)發(fā)育時(shí)，極易受外界環(huán)境因素如物理、化學(xué)或生物因子的影響，尤其對8周以內(nèi)的胚胎更為敏感，引起胚胎的分化發(fā)育障礙，產(chǎn)生先天性畸形。
3.物理因素：最常見的物理性致畸因子有放射線、機(jī)械因素、高溫、嚴(yán)寒、微波、缺氧等。
4.高溫：高溫對早期胚胎神經(jīng)系統(tǒng)發(fā)育有致畸作用。當(dāng)受精后20～28天內(nèi)，孕婦如發(fā)燒至39℃以上時(shí)，胎兒容易出現(xiàn)后頭部腦疝畸形，而在妊娠4～14周時(shí)孕婦接觸高溫后，胎兒出生后可出現(xiàn)精神呆滯，肌張力低下等中樞神經(jīng)系統(tǒng)損害。
5.化學(xué)因素：許多藥物和環(huán)境污染物對胎兒發(fā)育有致畸作用。這和藥物的性質(zhì)、毒性、劑量、給藥方式、作用時(shí)間等有關(guān)，也和胚胎月齡有關(guān)。致畸藥物的種類繁多，常見的有緩腫瘤藥、抗凝血藥、有機(jī)汞、酒精等。家庭裝修中的甲醛、苯類對人類危害越來越普遍。氨基糖苷類抗生素應(yīng)用產(chǎn)生的毒性損害很常見。
6.高膽紅素血癥：如新生兒敗血癥等造成核黃疸，腦組織細(xì)胞線粒體的氧化磷酸化的解偶聯(lián)作用發(fā)生障礙，腦細(xì)胞能量產(chǎn)生不足，而變性壞死。
7.中樞神經(jīng)系統(tǒng)感染：急性腦炎、腦膜炎、敗血癥、頭部外傷等感染引起的小兒腦癱等導(dǎo)致腦組織缺氧缺血。
查看更多關(guān)于一些外在因素引起小兒腦癱的相關(guān)常識>>
咨詢
問題
